Marka: Malvern Panalytical

Model: Aeris

Açıklama: Yığın halde katı ve toz örneklerin atomik yapılarındaki kristal formları tayin etmek için kullanılan 5-90° tarama açılarında oda sıcaklığında x-ışını kırınımını sinyallerine ölçebilen bir analiz cihazıdır. X-ışını difraktometresi (XRD) adını taşıyan bu cihaz ile metal, seramik, polimerik, kompozit örneklerin yapısında yer alan kristalin fazlar belirlenebilmektedir.