Marka: Park Systems

Model: NX12

Açıklama: Yığın halde katı ve film örneklerin yüzeyleri hakkında pürüzlülük ve yüzey topografi bilgilerini edinmek amacıyla kullanılan; temaslı, temassız ve tapping modlarına uygun şekilde tasarlanmış farklı amaç ve fonksiyonlardaki ince uçlu bir atomik kuvvet mikroskobu (AFM) tipleri ile çalışan bir sistemdir.